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0755-27296008
13480035394
测量原理
从半导体激光器发出的激光光束被一个多面镜和一个平面镜反射。光束穿过一个准直F (θ)透镜。扫描目标物后，光束通过接收器透镜汇聚并转换成一个与接收光强度成正比的电子信号，根据光束被目标物遮断形成阴影的时间来计算目标物尺寸。​
激光扫描方式的原理图
采用32位DSP、32位MCU微处理器芯片，保证了数据的计算与输出能力。专用的测量算法配合高精密硬件，可保证测径仪长期使用后数据的稳定住与准确性。
测量模式
四轴测量
单轴测量
双轴测量
测量类型
直径检测
宽度厚度检测
凹凸缺陷检测
跳动检测
椭圆度检测
准确测量
采用进口高速微型马达（高扫描频率）、军工级制程激光器（高准直性）、最新的非球面光学系统设计与加工、优化特定的边缘检测算法。测径仪扫描频率最高可达2400Times/S(单轴)，能精准识别被测物边缘，保证在一个测量周期内得到更多的被测物单个扫描值，高精度单周期精确数据采集能真实反应其尺寸变化和表面缺陷，能在很小的扫描间距内检出产品表面的粒子、漆瘤、气泡、砂眼等，当缺陷的尺寸大于最小检测间距时能被准确检出;尤其在扁平物测量方面，结合优化边缘算法，更能真实检测出其宽度和厚度，这是传统测量方法或低扫描频率检测仪器所不具备的。
直径与缺陷检测
​波纹，锯齿检测